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显微镜法测还原铁粉粒度

来源:本站原创 2018-08-24 08:05:06 铁粉技术 118 ℃ 0 评论

显微镜法测粉末的粒度

光学显微镜法测粉末粒度值的范围

      光学显微镜的分辨能力,在理想情况下可达到0.2微米,它和光源的波长,透镜的数值孔径有关。但在实际应用中,光学显微镜的粒度测量范围是0.8~150微米,再小的粉末粒度唯有电子显微镜等方法才能观察和测定。

光学显微镜法测粉末粒度的方法

由于反射光工作的光学显微镜仅能测量粒度大于5微米颗粒物质,因此粒度分析一般采用透射光工作的显微镜。为了计算颗粒的大小,在显微镜目镜上配有显微刻度尺,刻度尺使用前事先都应校准。
常用于分析的显微刻度尺有三种:
(1)带十字线的直线刻度尺;
(2)网络显微刻度尺;
(3)花样显微刻度尺。

显微镜法测粉末粒度的原理和优缺点

      显微镜法测量的是颗粒的表现粒度,即颗粒的投影尺寸。对称性好的球形颗粒(如雾化粉)或立方体颗粒可直接按直径或长度计算。但对于非球形的不规则颗粒,不能用直接计
算的方法,必须考虑到不同的表示方法。
      显微镜法最大的缺点是操作繁琐且费力。



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